北京信息科技大學(xué)購買剪切電子散斑干涉儀

2018-11-20 0

　　北京信息科技大學(xué)購買剪切電子散斑干涉儀用于測量位移導(dǎo)數(shù)。剪切電子散斑干涉術(shù)(ESPI)是繼電子散斑干涉術(shù)后發(fā)展的一種測量位移導(dǎo)數(shù)的新技術(shù)。它與電子散斑干涉術(shù)不同的是在光學(xué)結(jié)構(gòu)上，后續(xù)的圖象處理系統(tǒng)是相同的。它除了電子散斑干涉術(shù)的許多優(yōu)點(diǎn)外，還有光路簡單，對振動(dòng)隔絕的要求低等特點(diǎn)。另外，它測量的是位移導(dǎo)數(shù)，在自動(dòng)消除剛體位移的同時(shí)對于缺陷受載的應(yīng)變集中十分靈敏，因此被廣泛地應(yīng)用于無損檢測(NDT)領(lǐng)域。