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為力學(xué)實驗室儀器而生
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為力學(xué)實驗室儀器而生
任何一個用于形成光路，組成光學(xué)或者跟光學(xué)有關(guān)的儀器，器件，都是光學(xué)元件。光學(xué)元件種類太雜太多，在這里就主要挑選常見的光學(xué)元件進(jìn)行分析介紹?！ ∑酵雇哥R：單個透鏡的焦距是主點到焦點的距離。透鏡的設(shè)計波長為546.1 nm(綠色汞譜線的e線)。由于焦距隨波長變化，所以被用于其它波長時，其焦距也隨之變化?！ ∑桨纪哥R：具有負(fù)的焦距，被用于發(fā)散一束平行光?？梢蕴峁]鍍膜和鍍了可見光帶域的防反射多層膜透鏡。單個透鏡...
干涉儀是利用光學(xué)干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的精密光學(xué)儀器。一般來說,只要是利用光干涉的原理來量測的儀器便可以稱為干涉儀。一般來說，最初入射光先經(jīng)過某種分束器(部分透射反射鏡)分成單獨的兩束光，可能有的光束會經(jīng)過外界環(huán)境的影響(例如，長度變化或者經(jīng)過折射率變化的透明介質(zhì))，然后在另一個分束器處光束再次符合。得到的光束功率的空間分布就可以用于測量。 光學(xué)干涉儀的應(yīng)用極為廣泛，主要有如下幾方...
玻璃是透明材料，而且是一種均質(zhì)體，它具有各向同性的性質(zhì)，當(dāng)單色光通過玻璃時，光速與其傳播方向和光波的偏振面無關(guān)，不會發(fā)生雙折射現(xiàn)象。但是，由于外部的機(jī)械作用或者玻璃容器成型后從軟化點以上的不均勻冷卻，使玻璃容器具有殘余應(yīng)力時，各向同性的玻璃在光學(xué)上就成為各向異性體?！ ?nèi)應(yīng)力系指物件由于外因(受力或濕度、溫度變化等)而變形時，在物件內(nèi)各部分之間會產(chǎn)生相互作用的內(nèi)力，以抵抗這種外因的作用，當(dāng)外部載...
激光干涉儀具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、最高測速下分辨率高等優(yōu)點，結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實現(xiàn)線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。在SJ6000激光干涉儀動態(tài)測量軟件配合下，可實現(xiàn)線性位移、角度和直線度的動態(tài)測量與性能檢測，以及進(jìn)行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動態(tài)分析，如振動分析、絲桿導(dǎo)軌的動態(tài)特性分析、驅(qū)動系統(tǒng)的響應(yīng)特性分析等。 激光干涉儀最典型的...
造成激光干涉儀測量誤差的因素有哪些?激光干涉儀是精度較高的線性位移測量儀器，其光波可以直接對米進(jìn)行定義，可溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)。但是我們在使用中往往會出現(xiàn)檢測偏離值，偏離我們的預(yù)估，以至于在高精度檢測時，對設(shè)備產(chǎn)生懷疑。 1、阿貝誤差 因測量光學(xué)鏡組的安裝高度不在被測設(shè)備的運動軸上引起的測量誤差稱之為阿貝誤差。產(chǎn)生的原因是設(shè)備移動時存在俯仰、扭擺差，因此光學(xué)鏡組與運動軸偏置距離越遠(yuǎn)，引起的阿貝誤差...
激光散斑測量使用的一種方法是散斑干涉法，能夠測量的位移分為面內(nèi)位移和離面位移，其中面內(nèi)位移即在平面內(nèi)發(fā)生的位移，離面位移即垂直于平面的位移?！ ∫?、散斑的形成 使用被擴(kuò)束后的平行光照射物塊表面，在空間出現(xiàn)隨機(jī)分布的亮斑和暗斑，稱為散斑。散斑隨銅塊的變形或運動而變化。在距離物體為Z的位置散斑的縱向和橫向尺寸分別為a和b，其中尺寸大小與激光波長、照明面積D和距離Z有關(guān)。在距離物體為Z處散斑縱向和橫...
干涉儀是根據(jù)光的干涉原理制成的一種儀器。將來自一個光源的兩個光束完全分并，各自經(jīng)過不同的光程，然后再經(jīng)過合并，可顯出干涉條紋。一束平行單波長光，經(jīng)分光鏡P1分成兩束光。一束被反射，另一束則穿透分光鏡(，然后此兩束光各經(jīng)過一個反射鏡M1和M2，其中照物光會穿越測試區(qū)的模型流場。然后兩束光于分光鏡P2處會合，再由透鏡聚合于一個銀幕上。如此將可于銀幕上記載有明暗相間隔的干涉條紋，這乃是測試區(qū)內(nèi)流場密度已被...
光彈性法是一種光學(xué)應(yīng)力測量方法。它利用具有雙折射性能的透明材料制作成與實際工程結(jié)構(gòu)、部件或零件幾何形狀相似的模型，并在模型上施加與實際部件相似的載荷，根據(jù)光彈性條紋即可計算模型邊界和內(nèi)部各點的應(yīng)力，再由相似理論換算成原件上的應(yīng)力，其精度能滿足工程設(shè)計的要求。 光彈性法可以測量幾何形狀與載荷條件較為復(fù)雜的構(gòu)件應(yīng)力，特別是可測量其它方法難以解決的應(yīng)力集中及內(nèi)部應(yīng)力問題?！ ED數(shù)碼光彈儀是以光...
